測量功能
因障礙物阻擋雷射、或沒有目標面可充當反射體而無法進行直接測量時,適用測量功能 間接高度測量。
間接高度測量的精準度永遠不如直接距離測量。視運用方式而定,其測量誤差可能大於直接距離測量。
雷射將在各次單一測量之間的空檔保持開啟。

利用測量功能 間接高度測量 您可藉由測量線段 1 和 2 來測得線段 AB。測量工具根據線段 1 和 2 計算所需的高度 AB。
進行每一次測量時,雷射與待測量線段必須一直保持直角,這樣測量結果才正確(畢氏定理)。請確保所搜尋的線段 AB 和水平線段 1 之間呈直角。
- 按一下按鈕
,即可開啟功能功能表。 - 請選擇間接高度測量
並利用按鈕
確定選擇。 - 請短按按鈕
,即可開啟雷射功能。 - 將測量工具放在下方測量點 B 的高度上。
- 按一下按鈕
,即可開啟第一次測量程序。 - 傾斜測量工具,使雷射對準上方測量點 A。
- 按一下按鈕
,即可開啟第二次測量程序。
完成測量後,將自動計算出高度並於測量結果顯示列 (f) 中顯示該值。線段 1 及 2 的測量值位於測量值顯示列 (e) 中。
